ÀüÀÚÆÄ
ÀûÇÕµî·Ï
ÀüÀÚÆÄÀÇ ÀûÇÕ¼ºÀ̶õ Àü±â¸¦ »ç¿ëÇÏ´Â Àü±â.ÀüÀÚ±â±â¿¡¼ ¹ß»ýµÇ´Â ºÒÇÊ¿äÇÑ ÀüÀÚÆÄ¿Í ÀüÀÚÆÄ ³»¼º½ÃÇèÀ» CISPR ±ÔÁ¤¿¡ µû¶ó ½ÃÇèÇÏ¿© ±âÁØ¿¡ ÀûÇÕÇÑ
°¡¸¦ Æò°¡ÇÏ´Â ¹ýÀû µî·ÏÁ¦µµ¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.
ÀüÀÚÆÄ ÀûÇÕ¼º ½ÃÇèÀº EMI (ºÒ¿ä ÀüÀÚÆÄ
¶Ç´Â ÀüÀÚÆÄ °£¼·, Electro Magnetic Interference) + EMS (ÀüÀÚÆÄ ³»¼º,Electro
Magnetic Susceptibility) 2°¡Áö ½ÃÇèÀ» ÇÔ²² ÀüÀÚÆÄ ÀûÇÕ¼º½ÃÇè(EMC, Electro Magnetic
Compatibility)À̶ó ºÎ¸¥´Ù. ÀüÀÚÆÄ ÀûÇÕ¼º ½ÃÇèÀÇ ¸ñÀûÀ¸·Î EMI´Â °øÁßÆÄ¿¡ ÇÒ´çµÈ Á֯ļö¸¦ º¸È£Çϱâ À§ÇÑ °ÍÀÌ ¸ñÀûÀ̰í, EMS´Â
ÇÁ·Î¼¼¼°¡ ³»ÀåµÈ ±â±âÀÇ ¿Àµ¿ÀÛÀ» ¹æÁöÇϱâ À§ÇÏ¿© Æò°¡ÇÏ´Â °ÍÀÌ´Ù
EMC
ÀÓÀÇ Àü±â. ÀüÀÚ±â±â¿¡ Àü¿øÀ» °ø±ÞÇÏ°í µ¿ÀÛ½Ã۸é Á֯ļö
´ë¿ª, ½ÅÈ£¼¼·ÂÀÇ Å©±â´Â ´Ù¸¦Áö¶óµµ ¸ðµç ±â±â¿¡¼ ÀüÀ򮀡¡ ¹ß»ýµÇ´Âµ¥ ÀÌ´Â linear(¼±Çü) ½ÅÈ£°¡ nonlinear(ºñ¼±Çü ȸ·Î¸Á)¿¡
¿¬°áµÉ ¶§ Ãâ·Â¿¡ ºñ¼±Çü ½ÅÈ£ Áï, EMI°¡ ¹ß»ýµÇ´Â °ÍÀÌ´Ù. Åë»óÀûÀ¸·Î ÀÓÀÇ ½ÅÈ£¸¦ ÃøÁ¤ÇÑ´Ù´Â °ÍÀº ½Ã°£Ãà»ó¿¡¼ ÃøÁ¤ÇÏ´Â °ÍÀº ¿À½Ç·Î½ºÄÚÇÁÀ̰í
Á֯ļöÃø»ó¿¡¼ ½ÅÈ£¸¦ ÃøÁ¤ÇÏ´Â °ÍÀº ½ºÆåÆ®·³ ºÐ¼®±âÀÌ´Ù.
EMI
±â±â·ÎºÎÅÍ ¹ß»ýµÇ´Â ÀüÀÚÆÄ¸¦ Àü¿ø¼±À» ÅëÇØ ³ª°¡´Â ÀüµµÀâÀ½(CE)°ú
¹æ»çÀâÀ½(RE) 2°¡Áö¸¦ ÃøÁ¤ÇÑ´Ù.
EMS
ÇÁ·Î¼¼¼ ³»Àå±â±â°¡ ¿ÜºÎ ÀüÀÚÆÄ·ÎºÎÅÍ °ßµð´Â ´É·ÂÀ» Æò°¡Çϱâ À§ÇØ ½ÃÇèµÇ¸ç ½ÃÇèÇ׸ñÀº
ÇöÀç±îÁö´Â Á¤Àü±â(ESD),¹æ»ç³»¼º(RS), °í¼Ó¹Ýº¹¼Áö(EFT), ¼Áö(Surge) 4°¡ÁöÀ̳ª ¾ÕÀ¸·Î °è¼Ó ´Ã¾î³¯ °ÍÀÌ´Ù |